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    極紫外平面反射鏡

    簡要描述:極紫外平面反射鏡
    最大可實現 13.5nm 反射
    專為極紫外線光束轉向和諧波分離而設計
    5°和45°自動光學檢驗的可用版本

    基礎信息

    產品型號

    廠商性質

    經銷商

    更新時間

    2026-01-05

    瀏覽次數

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    詳細介紹
    品牌Edmund Optics

    極紫外平面反射鏡通用規格:

    直徑 (mm):
    25.40 ±0.25
    表面平整度 (P-V):
    λ/10 @ 632.8nm
    基底:
    Single Crystal Silicon
    涂層:
    Mo/Si Multilayer
    Top Layer: Silicon
    鍍膜類型:
    Metal/Semiconductor
    表面粗糙度(埃):
    <3 RMS
    厚度 (mm):
    6.35 ±0.508
    厚度容差 (mm):
    0.508
    產品編碼Dia. (mm)表面平整度 (P-V)基底
    38-75925.40 ±0.25λ/10 @ 632.8nm Single Crystal Silicon 
    38-76025.40 ±0.25λ/10 @ 632.8nm Single Crystal Silicon 

    極紫外平面反射鏡是多層反射鏡,在其設計波長和入射角下實現最大反射率。這些反射鏡的特點是反射涂層沉積在一個超拋光的單晶硅基板上,表面粗糙度小于3? RMS. 45°自動光學檢驗反射鏡可用于轉向s偏振光束,而 5° 自動光學檢驗反射鏡可用于非偏振光束. 極紫外線反射鏡的應用包括相干衍射成像 (CDI) 和材料科學研究。紫外平面反射鏡也可用作高次諧波 (HHG) 光束的諧波選擇器.

    注意: 附帶每個反射鏡運行樣本的測試數據.


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